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赛默飞Nexsa G2 X 射线光电子能谱仪

简要描述:赛默飞Nexsa G2 X 射线光电子能谱仪可进行全自动、高通量的表面分析,提供用于推进研发或解决生产问题的数据。 集成 XPS 与离子散射谱(ISS)、紫外光电子能谱 (UPS)、反射电子能量损失谱(REELS)和拉曼光谱,让您进行真正的联用分析。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-02-21
  • 访  问  量:1630

详细介绍

品牌Thermofisher Scientific/赛默飞世尔窗口类型-
探测器面积-mm最大计数率-cps
峰背比-分辨率-eV
价格区间40万-50万探测器类锂漂移硅探测器Si(Li)
仪器种类进口应用领域环保,化工,生物产业,石油,制药

赛默飞Nexsa G2 X 射线光电子能谱仪标准化性能: 

·         绝缘体分析

·         高性能XPS性能

·         深度剖析

·         多技术联合

·         双模式离子源,使深度剖析功能得到扩展

·         用于 ARXPS 测量的倾斜模块

·         用于仪器控制、数据处理和报告生产的 Avantage 软件

·         小束斑分析

可选的升级:可将多种分析技术集成到您的检测分析中。式自动运行

·         ISS:离子散射谱,分析材料表面1-2原子层元素信息,通过质量分辨可分析一些同位素丰度信息。

·         UPS:紫外光电子能谱用于分析金属/半导体材料的价带能级结构信息以及材料表面功函数信息

·         拉曼:拉曼光谱技术用于提供分子结构层面的指纹信息

·         REELS:反射电子能量损失谱可用于H元素含量的检测以及材料能级结构和带隙信息

 

赛默飞Nexsa G2 X 射线光电子能谱仪应用领域 

·         电池

·         生物医药

·         催化剂

·         陶瓷

·         玻璃涂层

·         石墨烯

·         金属和氧化物

·         纳米材料

·         OLED

·         聚合物

·         半导体

·         太阳能电池

·         薄膜


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